[发明专利]一种高电容密度的埋入式电容的制备方法在审
申请号: | 201510622108.9 | 申请日: | 2015-09-25 |
公开(公告)号: | CN105140029A | 公开(公告)日: | 2015-12-09 |
发明(设计)人: | 张仕通;王锋伟;崔成强 | 申请(专利权)人: | 安捷利(番禺)电子实业有限公司 |
主分类号: | H01G4/20 | 分类号: | H01G4/20;H05K1/16 |
代理公司: | 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 | 代理人: | 肖云 |
地址: | 511458 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种高电容密度的埋入式电容的制备方法,包括使用Mg、Cu或Ce的一种或多种组合掺杂改性碳酸钡粉体,表面修饰改性的碳酸钡粉体,碳酸钡粉体与聚合物混合、搅拌以形成混合浆料,混合浆料涂覆在铜箔单面并预固化处理,将两个覆有介电薄膜的铜箔单面相对贴合以获得双面覆铜介电板,热压贴合双面覆铜介电板等步骤;掺杂改性的方法包括Mg掺杂的固相反应法、Mg掺杂的水热反应法以及Cu和Ce掺杂的固相反应法;聚合物还可以是环氧树脂、聚偏氟乙稀、聚氨酯的一种或多种组合;铜箔为压延铜箔或电解铜箔。通过本发明所获得的埋入式电容,不仅具有热稳定性好,机械韧性强,易于加工的特点,更关键在于其表现出更高的电容密度。 | ||
搜索关键词: | 一种 电容 密度 埋入 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种高电容密度的埋入式电容的制备方法,其特征在于,包括以下步骤实现:S1、使用Mg、Cu或Ce的一种或多种组合掺杂取代BaTiO3粉体的晶体结构中部分Ti原子的位点,以实现对所述BaTiO3粉体的掺杂改性;S2、表面修饰经步骤S1处理后的所述BaTiO3粉体;S3、将经步骤S2处理后的所述BaTiO3粉体与聚合物进行混合和搅拌,形成混合浆料,所述聚合物为聚酰亚胺;S4、将所述混合浆料涂覆在铜箔单面上,然后进行预固化处理,使得所述铜箔单面覆上介电薄膜;S5、将两个经步骤S4处理后的所述铜箔的覆有介电薄膜的一面相对贴合,获得双面覆铜介电板;S6、将所述双面覆铜介电板进行热压贴合,最终得到埋入式电容。
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