[发明专利]一种建筑物外立面测量方法在审
申请号: | 201510622200.5 | 申请日: | 2015-09-28 |
公开(公告)号: | CN105241432A | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | 尹志华;张清;许家伟;张超然;杨培培;刘木川;潘金宝;孙瑞 | 申请(专利权)人: | 中铁城市规划设计研究院有限公司 |
主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人: | 胡定华 |
地址: | 241000*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的目的是提供一种建筑物外立面测量方法,通过外业测量和内业数据处理进行测量计算,首先进行设站测量立面各细部点数据以及外业高差,之后将得到的各细部数据改正到正立面,最后进行绘制立面图;本发明完全采用全站仪无棱镜技术来测量建筑物的外立面,该方法只需2人作业即可高效完成测量且精度可靠,适用于建筑物外立面的测量中。 | ||
搜索关键词: | 一种 建筑 物外 测量方法 | ||
【主权项】:
一种建筑物外立面测量方法,包括有外业测量和内业数据处理,其特征在于:所述外业测量包括有以下步骤:步骤一:在需要观测的立面前选择能尽量看到立面全景的位置设站,采用假定坐标系和自由设站,角度定向为北方向置零;步骤二:设站完成后,使用全站仪无棱镜进行碎步测量:首先采集立面上各细部点数据,包括门窗、柱、檐等细部水平位置特征点,细部点对应点号,重合点对编号,草图勾绘时详细记录,并拍照以便内业参照;步骤三:窗户间的垂直间距,门窗高、建筑物高等数据采用全站仪无棱镜高差测量方式获取,现场经过加减计算直接求解得出外业高差;所述内业数据处理包括有以下步骤:步骤四:将步骤二得到的立面上各细部点数据在CASS软件展点后改正到正立面(由于采用自由设站,立面细部点数据在CASS软件展点后是非正立面):选择两个在同一条投影线上的点作为立面图的轴线,这两点尽量距离最大(楼体两端点),以其中一点作为旋转基点,使用正交功能对所有点进行测站改正,改正后轴线与坐标轴y轴重合;步骤五:参照立面照片,依据外业草图点号,对应步骤四得出的正立面上点号连点绘制立面图,垂直方向数据依据外业高差计算成果,便得出建筑物外立面图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中铁城市规划设计研究院有限公司,未经中铁城市规划设计研究院有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510622200.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。