[发明专利]分光分析装置、以及分光分析装置的校正方法

摘要

本发明涉及分光分析装置以及分光分析装置的校正方法。分光分析装置(1)具备：测定测定对象的分光光谱的分光测定部；存储记录有与已知成分对应的固有波长的参照数据的存储部(21)；利用参照数据指定与测定到的分光光谱中的固有波长对应的特征点的特征指定部(224)；以及将分光光谱中的特征点的波长作为固有波长进行校正的波长校正部(226)。

主权项

1.一种分光分析装置，其特征在于，具备：分光测定部，测定测定对象的分光光谱；存储部，存储与已知成分对应的固有波长以及所述已知成分的光谱向量；特征指定部，指定所述分光光谱中的对应于所述固有波长的特征点；波长校正部，将所述分光光谱中的所述特征点的波长作为所述固有波长进行校正；以及校正函数计算部，计算使所述固有波长和所述特征点的波长的关系近似的校正函数，所述波长校正部基于所述校正函数校正所述分光光谱的各波长，所述特征指定部基于所述分光光谱的光谱向量与所述已知成分的光谱向量的光谱角度为最小的分光光谱的光谱向量来指定所述特征点。