[发明专利]二维核磁共振弛豫时间的测量方法有效
申请号: | 201510627440.4 | 申请日: | 2015-09-28 |
公开(公告)号: | CN105259198B | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 肖立志;邓峰;廖广志 | 申请(专利权)人: | 中国石油大学(北京) |
主分类号: | G01N24/08 | 分类号: | G01N24/08 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 宋扬;黄健 |
地址: | 102249 北京市昌平区府学路18*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法,包括:向被测样品发射DEFIR脉冲序列,根据DEFIR脉冲序列的回波信号,获得纵向弛豫时间T1分布谱的第一幅值ADEFIR(logT1);多次向被测样品发射FIR脉冲序列,根据FIR脉冲序列的回波信号,获得纵向弛豫时间T1分布谱的第二幅值AFIR(logT1);将ADEFIR(logT1)和AFIR(logT1)带入第一公式中,得到T1分布与T1/T2分布的函数关系,根据T1分布与T1/T2分布的函数关系,推导获得T1‑T2分布。本发明的测量方法,只需要两次一维扫描就可以得到二维弛豫时间分布,在较短的时间内实现对二维核磁共振弛豫时间的精确测量,避免了现有技术中测量所需时间较长,容易导致在测量流动流体时,测量还未完成时探测区域内的流体就已经全部流出,导致测量结果不精确的技术问题。 | ||
搜索关键词: | 二维 核磁共振 弛豫时间 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法,其特征在于,包括:向被测样品发射DEFIR脉冲序列,根据DEFIR脉冲序列的回波信号,获得纵向弛豫时间T1分布谱的第一幅值ADEFIR(logT1);多次向被测样品发射FIR脉冲序列,根据FIR脉冲序列的回波信号,获得纵向弛豫时间T1分布谱的第二幅值AFIR(logT1);将ADEFIR(logT1)和AFIR(logT1)带入第一公式中,得到T1分布与T1/T2分布的函数关系,所述第一公式为:
其中,T2为横向弛豫时间,τ1为样品的重复极化时间,τ2=4τDE,τDE为半回波间隔时间;根据所述T1分布与T1/T2分布的函数关系,推导获得T1‑T2分布;其中,所述向被测样品发射DEFIR脉冲序列,具体包括:多次向被测样品发射驱动平衡DE脉冲序列,测得被测样品的平衡磁化矢量Meq,所述DE脉冲序列的数量为预设的第一数值,每次发射所述DE脉冲序列的间隔时间为样品的重复极化时间τ1;向被测样品发射180度翻转脉冲;多次向被测样品发射FIR脉冲序列,测得被测样品的一维T1分布函数,FIR脉冲序列的数量为预设的第二数值,每次发射所述FIR脉冲序列的间隔时间为TWFIR;FIR脉冲序列每循环一次重复极化时间TWFIR就改变一次;0
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