[发明专利]二维核磁共振弛豫时间的测量方法有效

专利信息
申请号: 201510627440.4 申请日: 2015-09-28
公开(公告)号: CN105259198B 公开(公告)日: 2018-11-13
发明(设计)人: 肖立志;邓峰;廖广志 申请(专利权)人: 中国石油大学(北京)
主分类号: G01N24/08 分类号: G01N24/08
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 宋扬;黄健
地址: 102249 北京市昌平区府学路18*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法,包括:向被测样品发射DEFIR脉冲序列,根据DEFIR脉冲序列的回波信号,获得纵向弛豫时间T1分布谱的第一幅值ADEFIR(logT1);多次向被测样品发射FIR脉冲序列,根据FIR脉冲序列的回波信号,获得纵向弛豫时间T1分布谱的第二幅值AFIR(logT1);将ADEFIR(logT1)和AFIR(logT1)带入第一公式中,得到T1分布与T1/T2分布的函数关系,根据T1分布与T1/T2分布的函数关系,推导获得T1‑T2分布。本发明的测量方法,只需要两次一维扫描就可以得到二维弛豫时间分布,在较短的时间内实现对二维核磁共振弛豫时间的精确测量,避免了现有技术中测量所需时间较长,容易导致在测量流动流体时,测量还未完成时探测区域内的流体就已经全部流出,导致测量结果不精确的技术问题。
搜索关键词: 二维 核磁共振 弛豫时间 测量方法
【主权项】:
1.一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法,其特征在于,包括:向被测样品发射DEFIR脉冲序列,根据DEFIR脉冲序列的回波信号,获得纵向弛豫时间T1分布谱的第一幅值ADEFIR(logT1);多次向被测样品发射FIR脉冲序列,根据FIR脉冲序列的回波信号,获得纵向弛豫时间T1分布谱的第二幅值AFIR(logT1);将ADEFIR(logT1)和AFIR(logT1)带入第一公式中,得到T1分布与T1/T2分布的函数关系,所述第一公式为:其中,T2为横向弛豫时间,τ1为样品的重复极化时间,τ2=4τDE,τDE为半回波间隔时间;根据所述T1分布与T1/T2分布的函数关系,推导获得T1‑T2分布;其中,所述向被测样品发射DEFIR脉冲序列,具体包括:多次向被测样品发射驱动平衡DE脉冲序列,测得被测样品的平衡磁化矢量Meq,所述DE脉冲序列的数量为预设的第一数值,每次发射所述DE脉冲序列的间隔时间为样品的重复极化时间τ1;向被测样品发射180度翻转脉冲;多次向被测样品发射FIR脉冲序列,测得被测样品的一维T1分布函数,FIR脉冲序列的数量为预设的第二数值,每次发射所述FIR脉冲序列的间隔时间为TWFIR;FIR脉冲序列每循环一次重复极化时间TWFIR就改变一次;0
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