[发明专利]物体表面污染物清洗用的光路系统在审

专利信息
申请号: 201510628659.6 申请日: 2015-09-28
公开(公告)号: CN105215007A 公开(公告)日: 2016-01-06
发明(设计)人: 林学春;张志研;王奕博;于海娟;刘燕楠;梁浩;高文焱;林康 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: B08B7/00 分类号: B08B7/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种物体表面污染物清洗用的光路系统,包括:一激光器,其发出圆形光斑;一方形光斑整形器,该方形光斑整形器将圆形光斑变换成发散的方形光斑;一第一、第二透镜,其依序位于激光器的输出光路上,该第一柱透镜用于将方形光斑的一边长a方向进行准直,该第二透镜用于将方形光斑另一边长b方向进行准直;一第一、第二扫描镜,其依序位于激光器的输出光路上,该第一、第二扫描振镜用于控制清洗用扫描光斑摆动位置,控制清洗;一聚焦场镜,其位于第二扫描镜的光路上,该聚焦场镜用于将平行长方形光斑聚焦形成尺寸为百微米级的清洗用长方形光斑。本发明可实现聚焦方形光斑两边长方向不同尺寸调节,长方形聚焦光斑清洗可在减少重叠率的基础上,消除清洗盲区,提高清洗质量及清洗效率。
搜索关键词: 物体 表面 污染物 清洗 系统
【主权项】:
一种物体表面污染物清洗用的光路系统,包括:一激光器,其发出圆形光斑;一方形光斑整形器,其位于激光器的输出光路上,该方形光斑整形器将圆形光斑变换成发散的方形光斑;一第一、第二透镜,其依序位于激光器的输出光路上,该第一柱透镜用于将方形光斑的一边长a方向进行准直,该第二透镜用于将方形光斑另一边长b方向进行准直;一第一、第二扫描镜,其依序位于激光器的输出光路上,位于第一、第二透镜之后,该第一、第二扫描振镜用于控制清洗用扫描光斑摆动位置,控制清洗;一聚焦场镜,其位于第二扫描镜的光路上,该聚焦场镜用于将平行长方形光斑聚焦形成尺寸为百微米级的清洗用长方形光斑。
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