[发明专利]基于高光谱透射技术谱峰面积的脐橙糖度检测快速建模法

摘要

本发明公开了一种基于高光谱透射技术谱峰面积的脐橙糖度检测快速建模法，涉及水果内部品质无损检测技术领域。方法是：①获取脐橙样品半透射高光谱图谱；②利用化学方法测定脐橙样品的糖度值；③选取脐橙样品平均高光谱图谱；④计算高光谱图谱谱峰面积；⑤建立脐橙样品糖度预测模型，进行品质检测。本发明基于高光谱技术通过半透射方式采集脐橙样品高光谱图谱可以有效获取脐橙内部品质信息，提高水果内部品质的检测水平和检测效率；该建模法建模效率高、准确率高，模型运算速度快，可以快速检测水果的糖度内部品质指标，对水果的内部品质进行评价。

主权项

一种基于高光谱透射技术谱峰面积的脐橙糖度检测快速建模法，其特征在于包括下列步骤：①获取脐橙样品半透射高光谱图谱（Ａ）采用高光谱仪检测脐橙样品的高光谱图谱，设定采集方式、曝光时间、光源功率、波长范围、分辨率和采集速度；②利用化学方法测定脐橙样品的糖度值（Ｂ）按照国标GB/T8210所述测定方法测定脐橙样品的糖度值；③选取脐橙样品平均高光谱图谱（Ｃ）选取脐橙平均高光谱图谱，根据脐橙高光谱图谱特性，在MATLAB环境下对光谱曲线进行光谱预处理，去除非目标信息、仪器噪音、背景干扰以及去除水峰等无关变量信息之后，简化光谱信息，保留重要信息；④计算高光谱图谱谱峰面积（Ｄ）在MATLAB环境下，对光谱曲线进行拟合，自适应选取光谱区域下波峰值和波谷值，通过积分计算高光谱图谱谱峰面积；⑤建立脐橙样品糖度预测模型，进行品质检测（Ｅ）利用脐橙样品自适应选取光谱区域下左右谱图谱峰面积之比作为模型的输入变量，对未知脐橙样品进行糖度品质检测，对脐橙糖度建立线性回归定量检测模型，利用预测集相关系数和预测集均方根误差来评价检测模型的精度。