[发明专利]一种存储器测试装置及一种存储器芯片测试方法

摘要

本发明提供一种存储器测试装置及一种存储器芯片测试方法，改变传统存储器测试仪的失效地址存储器的地址空间和被测芯片的地址空间一一对应的关系，将失效地址存储器的地址空间分割为连续的存储记录单元，每个存储记录单元不再存储测试通过的比特的地址数据，仅存储测试失效比特的地址数据：存储失效比特所在同测接触的标识地址、失效比特所在芯片在其所在同测接触内的相对地址、失效比特在其所在芯片内的地址信息等，由此在存储器功能测试过程中，实现了多芯片的失效信息的同时存储，以及失效地址硬件存储空间的利用率和测试速度的大大提高。

主权项

1.一种存储器测试装置，能对多个同类型的被测芯片进行同测，包括依次连接的算法向量发生器、数字比较器、失效地址存储器；所述算法向量发生器存放有用于存储器功能测试的测试向量信息；所述数字比较器用于将每个被测芯片的输出响应与所述测试向量的期待值相比较，来判断被测存储器芯片是否失效；其特征在于，所述存储器测试装置还包括触发器，所述失效地址存储器主要由相等长度的连续多个存储记录单元组成，所述触发器在数字比较器判定某个被测存芯片失效时，触发失效地址存储器将失效的被测芯片的失效比特的地址数据存储至相应的存储记录单元；所述存储记录单元存储的失效比特的地址数据包括被测芯片用于同测的标识地址和相对地址以及失效比特在被测芯片内的行列地址信息；所有被测芯片位于一晶圆中，所述晶圆上有存储器芯片阵列形成的多个同测接触，每个同测接触中有用于同测的多个被测芯片；被测芯片用于同测的标识地址为被测芯片所在的同测接触在所述晶圆中的标识地址，被测芯片用于同测的相对地址为所述被测芯片在其所在同测接触中的地址；存储记录单元的长度取决于同测接触的数量、存储器芯片阵列的大小以及被测芯片的容量。