[发明专利]一种星载微波辐射计的偏差校正方法有效

专利信息
申请号: 201510657655.0 申请日: 2015-10-13
公开(公告)号: CN106569186B 公开(公告)日: 2018-11-13
发明(设计)人: 何杰颖;张升伟;王振占 申请(专利权)人: 中国科学院国家空间科学中心
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 代理人: 王宇杨;陈琳琳
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种星载微波辐射计的偏差校正方法,该方法通过对微波辐射计发射前的热真空定标试验数据和仪器备份数据,以及微波辐射计在轨运行遥测数据和遥感数据的偏差校正,进而得到精确的亮温值,从而对成功发射的卫星进行在轨定标精度分析,提高卫星数据质量,更好的应用于气候研究和资料同化。
搜索关键词: 偏差校正 星载微波辐射计 微波辐射计 定标 备份数据 精度分析 气候研究 试验数据 卫星数据 遥测数据 遥感数据 在轨运行 发射 亮温 同化 卫星 应用 成功
【主权项】:
1.一种星载微波辐射计的偏差校正方法,其特征在于,该方法具体步骤如下:步骤1)根据在轨运行的星载微波辐射计下传的遥测数据包,利用通信分析,主备分析,电源分析和温度分析,判断仪器是否工作在正常状态;步骤2)利用在轨运行的星载微波辐射计下传到地面数据接收站的遥感数据包,判断仪器各通道增益和信号输出电压值范围,参考仪器设计方提供的参考范围判断阈值,确定观测的数据是否有效;步骤3)利用ECMWF/WRF仿真生成与星载微波辐射计时间和地理匹配的廓线数据,利用ARTS仿真模式进行亮度数据仿真验证,获得亮温值;步骤4)根据微波辐射计MWHS在轨观测数据,测得亮温值;根据像元的辐射混合和极化混合的影响情况,获得精确的亮温值;步骤5)然后,再结合国外同类型的微波辐射计,即AMSU‑/B获得的代表国际先进水平的亮温值;步骤6)在轨定标精度分析,通过上述步骤3)、4)和5)测得的亮温值,最终确定微波辐射机计仪器在轨定标精度,得到定量化结果。
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