[发明专利]基于混合测尺的相位式激光测距方法及装置在审
申请号: | 201510659333.X | 申请日: | 2015-10-13 |
公开(公告)号: | CN105301599A | 公开(公告)日: | 2016-02-03 |
发明(设计)人: | 侴智;骆龙 | 申请(专利权)人: | 深圳市迈测科技股份有限公司 |
主分类号: | G01S17/36 | 分类号: | G01S17/36 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 冯剑明 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区桃源街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于混合测尺的相位式激光测距方法,通过频率混合器将多个频率的测尺先混合得到混合测尺,再通过激光发射器将混合测尺发射至目标,只需发射一次激光测尺,就起到多把不同频率测尺的效果,有效减少激光测尺的发射次数,提高了测量速度,对运动的目标也能进行精确测量。本发明的相位式激光测距方法具有快速的测量响应时间、对运动目标的跟踪不易出错和实现的难度低的优点。 | ||
搜索关键词: | 基于 混合 相位 激光 测距 方法 装置 | ||
【主权项】:
基于混合测尺的相位式激光测距方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、由测尺产生单元产生测距所需要的多个测尺频率ω1,ω2,…ωN;S2、将步骤S1中得到的多个测尺频率通过频率混合器,产生一个混合测尺; S3、将步骤S2中得到的混合测尺分别输送至激光发射器和相位解析单元;S4、激光发射器根据混合测尺调制并发射激光至测量目标;S5、激光接收器接收经测量目标反射回来的激光信号,并提取其中的带相位时延信息的混合测尺信号,送至相位解析单元;S6、相位解析单元将带相位时延信息的混合测尺信号与步骤S3中得到的混合测尺进行比对,解析混合测尺中各测尺频率的相位时延信息,拟合出最终的测量结果。
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