[发明专利]用于传送晶片的设备前端模块以及传送晶片的方法有效
申请号: | 201510672713.7 | 申请日: | 2015-10-16 |
公开(公告)号: | CN105529293B | 公开(公告)日: | 2020-10-02 |
发明(设计)人: | 索斯藤·利尔;瓦希德·瓦赫迪;坎迪·克里斯托弗森;安德鲁·D·贝利三世;沈美华;朗格西·拉加万;盖理·布尔特曼 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/673 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 樊英如;李献忠 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明总体上涉及用于传送晶片的设备前端模块以及传送晶片的方法。一种用于往来于晶片处理模块传送晶片的EFEM包括外壳,该外壳在内部具有受控环境,该受控环境由前壁、后壁、第一和第二侧壁、顶壁和底壁限定。第一侧壁和第二侧壁包括两个或更多个晶片装载端口,其中每个晶片装载端口适于接收FOUP。所述前壁包括晶片端口,该晶片端口配置成附连到相应的装载锁,该装载锁可操作以使晶片能被传送到前壁集群处理工具。后壁包括晶片端口,该晶片端口适于与后壁集群处理工具成操作关系。在EFEM外壳内的机械手可操作以传送晶片通过晶片装载端口、第一前壁晶片端口、第二前壁晶片端口以及后壁晶片端口。 | ||
搜索关键词: | 用于 传送 晶片 设备 前端 模块 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种用于往来于半导体晶片处理模块传送半导体晶片的设备前端模块(EFEM),其包括:外壳,其适于具有在其内部的受控环境,其中所述外壳由前壁、后壁、介于所述前壁和所述后壁之间的第一侧壁和第二侧壁、顶壁和底壁限定;所述第一侧壁、所述第二侧壁、所述顶壁或所述底壁包括两个或更多个晶片装载端口,其中每个晶片装载端口适于从晶片传送系统接收正面开口标准箱(FOUP),所述晶片传送系统被配置成传送FOUP到相应的晶片装载端口;所述前壁包括第一前壁晶片端口和第二前壁晶片端口,所述第一和第二前壁晶片端口被配置成附连到相应的第一和第二前壁装载锁,所述第一和第二前壁装载锁能操作以允许晶片被从所述EFEM的所述受控环境传送到前壁集群处理工具的真空环境或从所述前壁集群处理工具的所述真空环境传送到所述EFEM的所述受控环境;所述后壁包括第一后壁晶片端口,所述后壁晶片端口适于与后壁集群处理工具成操作关系;以及在所述EFEM的所述外壳中的至少一个机械手能操作以传送晶片通过所述晶片装载端口、所述第一前壁晶片端口、所述第二前壁晶片端口、以及所述后壁晶片端口。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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