[发明专利]一种图像传感器的坏点处理方法及系统

摘要

本发明实施例公开了一种图像传感器的坏点处理方法及系统，所述方法包括：预设坏簇类型与插值算法的映射表；检测坏点的位置信息以及坏点所对应的坏簇类型信息，并存储；根据坏点的位置信息在采集的图像中查找坏点，根据坏点所对应的坏簇类型信息在映射表中选择相匹配的插值算法，利用该插值算法对所述坏点进行插值处理。本发明实施例提供的一种图像传感器的坏点处理方法及系统根据外围坏点的分布类型对坏簇进行分类，针对坏点所对应的不同坏簇类型采用不同的插值算法，使得每个坏点都能得到最优的插值结果，进而提高图像传感器的坏点处理效果。

主权项

1.一种图像传感器的坏点处理方法，其特征在于，所述方法包括：预设坏簇类型与插值算法的映射表；检测坏点的位置信息以及坏点所对应的坏簇类型信息，并存储；根据坏点的位置信息在采集的图像中查找坏点，根据坏点所对应的坏簇类型信息在映射表中选择相匹配的插值算法，利用该插值算法对所述坏点进行插值处理；其中，所述坏簇类型具体为：图像中以坏点为中心的模块内外围像素点中外围坏点的分布类型；所述以坏点为中心的模块为3×3模块，定义坏点的左右、左下右上、上下和左上右下方向为3×3模块中外围像素点的四个分布方向，根据外围坏点所占据分布方向的数量和/或外围坏点的数量归纳外围坏点的分布类型；所述归纳外围坏点的分布类型，包括：若不存在外围坏点或仅存在一个外围坏点，则归纳为第一分布类型；若外围坏点仅占据一个分布方向，且该分布方向上具有两个外围坏点，则归纳为第二分布类型；若外围坏点占据两个分布方向，则归纳为第三分布类型；若外围坏点占据三个分布方向，则归纳为第四分布类型；所述外围坏点的第一分布类型、第二分布类型、第三分布类型、第四分布类型分别对应坏簇类型中的第一类坏簇、第二类坏簇、第三类坏簇、第四类坏簇，所述坏簇类型与所述插值算法的映射表，具体为：若所述坏簇为第一类坏簇，所述插值算法对应为：在四个分布方向上采用梯度算法；若所述坏簇为第二类坏簇，所述插值算法对应为：在除了外围坏点所占据分布方向以外的其它三个分布方向上采用梯度算法；若所述坏簇为第三类坏簇，所述插值算法对应为：在除了外围坏点所占据分布方向以外的其它两个分布方向上采用双线性插值；若所述坏簇为第四类坏簇，所述插值算法对应为：在不存在外围坏点的分布方向上采用二值平均法。