[发明专利]利用光学显微镜图片判断石墨烯层数率的方法

摘要

本发明提供一种利用光学显微镜图片判断石墨烯层数率的方法，利用对比度值C做出概率分布图，将该对比度值C与理论计算的对比度值C0进行比较，分辨出石墨烯不同层对应的峰位置；将概率分布图进行拟合，拟合得到分别对应不同层数的多个峰，并得到峰面积；利用得到的指定拟合峰面积与各拟合峰面积之和相比的方法，判断石墨烯的层数率。该方法具有操作简单、效率高、成本低、误差小的特点，且可以用于判断不同衬底上不同方法制备的石墨烯的层数率，另外还可以判断其他二维纳米薄膜材料的层数率等优势。

主权项

一种利用光学显微镜图片判断石墨烯层数率的方法，其特征在于，步骤一：利用显微镜拍下在特定衬底上石墨烯样品的光学图片以及相同光场下若干幅空衬底的光学图片；步骤二：理论计算获得石墨烯在特定衬底上的对比度谱，并计算出不同厚度石墨烯在G刺激值范围内的对比度的平均值C₀步骤三：使用matlab软件将多幅空衬底的光学图片上所有像素点的R、G、B三色的刺激值分别提取出来；步骤四：将多幅空衬底的光学图片上所有像素点的G值取平均，得到G_衬底矩阵；步骤五：将石墨烯样品上所有像素点的G_石墨烯值与衬底的G_衬底值对应点之间进行比较，得出对比度值C＝(G_衬底‑G_石墨烯)./G_衬底，其中，‘./’为matlab中矩阵对应元素点之间相除的符号；步骤六：利用对比度值C做出概率分布图，将该对比度值C与理论计算的对比度值C₀进行比较，分辨出石墨烯不同层对应的峰位置；步骤七：将概率分布图进行拟合，拟合得到分别对应不同层数的多个峰，并得到峰面积；步骤八：利用得到的指定拟合峰面积与各拟合峰面积之和相比的方法，判断石墨烯的层数率。