[发明专利]一种密封槽深度测量装置的测量方法

摘要

本发明公开了一种密封槽深度测量装置的测量方法，该方法步骤为：将定位柱开口端部卡在千分表对零凸台的凸环外壁，凸环顶起活塞体，弹簧收缩，活塞体带动活动杆向上移动，进而推动千分表测量头，把千分表校为零值；将定位柱开口端部卡在待测工件的密封槽内，活塞体被工件的端面顶起，弹簧收缩，活塞体带动活动杆向上移动，进而推动千分表测量头，读出千分表的读数，该读数即为工件密封槽的深度和标准件的偏差值。本发明具有以下优点：1、用定位柱的开口端环形端面与活塞体下端面平面贴合接触，定位精度高，定位柱沿测量筒内壁上下滑移，避免了现有测量中因人为因素使测头偏斜致测量不准确；采用千分表读数，数值精确度更高。

主权项

一种密封槽深度测量装置的测量方法，所述的密封槽深度测量装置，包括定位柱(1)、测量筒、千分表(2)，所述的定位柱(1)一端设有开口，定位柱(1)另一端设有与定位柱(1)侧壁连接为一体的端壁，定位柱(1)的开口与端壁之间形成腔体，所述的密封槽深度测量筒还包括活动杆(3)，所述的活动杆(3)上伸出有置于所述定位柱(1)腔体内的活塞体(4)，所述的活塞体(4)的内端面与定位柱(1)的端壁之间通过弹簧(5)连接，所述的活动杆(3)的上端穿过所述的定位柱(1)的端壁伸出，所述的千分表(2)的测量头设置在该活动杆(3)伸出端的上方并与其接触，所述的定位柱(1)的开口端侧壁端面形成的环形端面与待测工件(6)的环形密封槽形状相适应，在弹簧(5)自然状态下，所述的活塞体(4)的外端面与定位柱(1)的开口端侧壁端面处于同一水平面上，所述的测量装置还包括千分表对零凸台，所述的千分表对零凸台包括底座(7)、由底座(7)上端面伸出的凸环(8)，所述的凸环(8)的环形外壁与所述的定位柱(1)的开口端的环形内壁形状相适应，所述的凸环(8)的厚度与待测工件(6)的密封槽深度相同，所述的千分表对零凸台中部设有贯穿凸环(8)、底座(7)的通孔，所述的千分表(2)连接在支架(9)上，其特征在于：所述的方法包括以下步骤：a)将定位柱开口端部卡在千分表对零凸台的凸环外壁，凸环顶起活塞体，弹簧收缩，活塞体带动活动杆向上移动，进而推动千分表测量头，把千分表校为零值；b)撤下定位柱，弹簧复位，活塞体的外端面与定位柱的开口端侧壁端面重新处于同一水平面上；c)将定位柱开口端部卡在待测工件的密封槽内，活塞体被工件的端面顶起，弹簧收缩，活塞体带动活动杆向上移动，进而推动千分表测量头，读出千分表的读数，该读数即为工件密封槽的深度和标准件的偏差值。