[发明专利]用于集成电路检测电磁故障注入攻击探测方法及探测器

摘要

本发明涉及信息安全、密码学与加密电路，为加密电路等信息安全相关集成电路提供针对电磁故障注入攻击的检测，保证在攻击发生时能够及时进行响应。为此，本发明采取的技术方案是，用于集成电路检测电磁故障注入攻击探测器，结构为：A1、A2、A3、A4、A5为5个反相器，级联形成环形振荡器，环形振荡器经反相器B缓冲后输出的振荡信号一路直接输入到组合逻辑延时比较结构Detector1中，另一路经过反相器C的反向，输入到另一个组合逻辑延时比较结构Detector2中；两个Detector的输入信号经过该Detector的组合逻辑输出到该Detector的触发器时钟输入端。本发明主要应用于集成电路安全设计。

主权项

1.一种用于集成电路检测电磁故障注入攻击探测器，其特征是，结构为：A1、A2、A3、A4、A5为5个反相器，级联形成环形振荡器，环形振荡器经反相器B缓冲后输出的振荡信号一路直接输入到组合逻辑延时比较结构Detector1中，另一路经过反相器C的反向，输入到另一个组合逻辑延时比较结构Detector2中；实现延时功能的组合逻辑D1和触发器E1组成了Detector1，组合逻辑D2和触发器E2组成了Detector2；Detector1的输入信号连接到其触发器输入端，Detector1的输入信号经过其组合逻辑输出到Detector1的触发器时钟输入端；Detector2的输入信号连接到其触发器输入端，Detector2的输入信号经过其组合逻辑输出到Detector2的触发器时钟输入端；两个Detector的输出经过一个或门F得到最终的报警信号Alarm。