[发明专利]一种齿面等间隔采样提高齿轮测量精度的方法

摘要

一种齿面等间隔采样提高齿轮测量精度的方法，可在齿轮测量过程中，对目前数据采集技术上的不足影响齿轮测量仪器齿廓的测量精度问题，以及刀具、齿轮修磨难以准确参考相应误差曲线图等问题加以解决，弥补了齿顶采样点较齿根采样点疏，不能整体真实的反应齿面微观几何形状的问题，有利于齿轮测量精度的提高；误差曲线能与实际齿廓各点一一对应的直观性分析，更有利于齿轮的误差分析，更好的为齿轮刀具的修磨提供参考。

主权项

一种齿面等间隔采样提高齿轮测量精度的方法，其特征在于：具体方法步骤如下:【1】根据齿面粗糙度和采样定理选择齿面间隔，给出了齿轮测量仪器涉及的10个等级的齿轮采样间隔；【2】将齿面的采样间隔分解成展开长度和展开角两个变量，计算出齿面各采样间隔ΔS_i对应的展开角间隔Δφ_i和展开长度间隔ΔL_i；由S=1/2r_bφ²得：φ=(2S/r_b)^1/2‑‑‑‑‑‑‑‑‑‑‑‑ (公式1)，由ΔS=ΔS_i‑ΔS_i‑1;i=1,2，…n得:ΔS=1/2r_b(φ_i‑1Δφ_i+Δφ_i²);i=1,2，…n ‑‑‑‑‑‑‑‑‑‑‑（公式2），公式2变形为：ΔS=1/2r_bΔφ_i (φ_i +φ_i‑1)；i=1,2，…n ‑‑‑‑‑‑‑‑‑（公式3），由公式1和公式3得对应展开角和展开长度上的间隔：Δφ_i =(i^1/2–(i‑1)^1/2) (2ΔS/r_b)^1/2i=1,2，…n ‑‑‑‑‑‑‑‑‑ （公式4），ΔL_i =(i^1/2–(i‑1)^1/2) (2ΔSr_b)^1/2  i=1,2，…n ‑‑‑‑‑‑‑‑‑（公式5），式中: r_{b ————}渐开线基圆半径；Δφ_i——第 i 个展开角间隔；     ΔL_i ——第 i 个展开长度间隔；【3】对圆光栅的采样点进行处理，根据采样间隔公式由软件具体算出每一个采样点的位置，将这些采样点与圆光栅的所有采样点位置相比较，选择出与计算的各个采样点位置最为相近的点，重新组成一组采样点； 【4】用齿轮测量仪器对处理得到的新的采样数据进行后续传统的处理，得出测量的齿形误差曲线和误差结果。