[发明专利]古热岩石圈厚度的确定方法及装置有效
申请号: | 201510711349.0 | 申请日: | 2015-10-28 |
公开(公告)号: | CN105242328B | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | 常健;邱楠生;左银辉 | 申请(专利权)人: | 中国石油大学(北京) |
主分类号: | G01V9/00 | 分类号: | G01V9/00;G01N25/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 王涛 |
地址: | 102249*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种古热岩石圈厚度的确定方法及装置,其中,该方法包括:获取研究区中各构造层的岩石热导率和岩石生热率;利用地层回剥技术构建研究区在预设地质时期的古构造层模型,并根据古构造层模型确定各构造层厚度;根据镜质体反射率实测值模拟获得各构造层的古地表热流值;根据古地表热流值、岩石生热率和构造层厚度计算各构造层的顶界热流值;根据顶界热流值、构造层厚度、岩石热导率和岩石生热率,确定地球浅部一维热传导地温线;确定地球浅部一维热传导地温线与地幔绝热线相交的深度,作为古热岩石圈的厚度。本发明可得到古地表热流和古地层厚度,进而计算古热岩石圈的厚度,解决了现有技术中无法确定古热岩石圈厚度及演化的问题。 | ||
搜索关键词: | 岩石圈 厚度 确定 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种古热岩石圈厚度的确定方法,其特征在于,包括:获取研究区中各构造层的岩石热导率和岩石生热率;利用地层回剥技术构建所述研究区在预设地质时期的古构造层模型,并根据所述古构造层模型确定各构造层厚度;根据镜质体反射率实测值,模拟获得所述研究区的各构造层的古地表热流值;根据所述古地表热流值、所述岩石生热率和所述构造层厚度计算各构造层的顶界热流值;包括:采用以下公式计算构造层的顶界热流值:其中,i表示构造层层数,表示第i构造层的顶界热流值,qs表示第i构造层的古地表热流值,Zi‑1表示第i‑1构造层厚度,Ai‑1表示第i‑1构造层的岩石生热率;根据各构造层的所述顶界热流值、所述构造层厚度、所述岩石热导率和所述岩石生热率,确定地球浅部一维热传导地温线;确定所述地球浅部一维热传导地温线与地幔绝热线相交的深度,作为古热岩石圈的厚度。
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