[发明专利]具有金属-绝缘体-硅接触件的存储器件和集成电路器件在审

专利信息
申请号: 201510713319.3 申请日: 2015-10-28
公开(公告)号: CN105575966A 公开(公告)日: 2016-05-11
发明(设计)人: 李盛三 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L23/525;H01L21/8242
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 张帆;张青
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供了存储器件和集成电路器件。该集成电路器件可包括有源区、有源区中的栅电极以及与有源区中的栅电极的一侧相邻的源极/漏极区。源极/漏极区可包括经掺杂的半导体材料。该器件还可包括位于有源区上的层间绝缘层,并且该层间绝缘层可包括暴露出源极/漏极区的上表面的凹进。该器件还可包括导电插塞,其位于凹进中且包括第一金属;以及绝缘层,其位于凹进中且包括第二金属。绝缘层可以位于源极/漏极区的上表面与导电插塞的下表面之间,并且可与经掺杂的半导体材料接触。
搜索关键词: 具有 金属 绝缘体 接触 存储 器件 集成电路
【主权项】:
一种存储器件,包括:在衬底中具有源极/漏极区的有源区;与所述有源区交叉的栅线;低电阻绝缘层,其与所述源极/漏极区的上表面接触;位于所述源极/漏极区的上表面上的接触件,所述接触件与所述低电阻绝缘层接触且包括导电金属;以及电连接至所述接触件的存储电容。
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