[发明专利]半导体器件及其操作方法有效
申请号: | 201510741199.8 | 申请日: | 2015-11-04 |
公开(公告)号: | CN105575428B | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 林相吾 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10;G11C16/26;G11C16/14;G11C16/34 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 俞波;许伟群 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种半导体器件的操作方法包括:将读取电压施加至多个存储块之中的选定存储块的选定字线,所述多个存储块包括耦接在位线与源极线之间的单元串;通过在选定存储块的单元串中形成通道来检测源极线的电压;将源极线的电压与对应于选定存储块的参考电压进行比较;以及当作为比较的结果源极线的电压大于参考电压时,对耦接至选定字线的存储单元执行最低有效位(LSB)读取操作,并且当作为比较的结果源极线的电压小于参考电压时,对存储单元执行最高有效位(MSB)读取操作。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
一种半导体器件的操作方法,所述操作方法包括:将读取电压施加至多个存储块之中的选定存储块的选定字线,所述多个存储块包括耦接在位线与源极线之间的单元串;通过在选定存储块的单元串中形成通道来检测源极线的电压;将源极线的电压与对应于选定存储块的参考电压进行比较;以及当作为比较的结果源极线的电压大于参考电压时,对耦接至选定字线的存储单元执行最低有效位LSB读取操作,并且当作为比较的结果源极线的电压小于参考电压时,对存储单元执行最高有效位MSB读取操作。
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