[发明专利]闪烁体面板及放射线检测器有效

专利信息
申请号: 201510745206.1 申请日: 2015-11-05
公开(公告)号: CN105572714B 公开(公告)日: 2018-11-30
发明(设计)人: 长谷川敦;前田景子 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达株式会社
主分类号: G01T1/202 分类号: G01T1/202
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 岳雪兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种闪烁体面板及放射线检测器,其能够提供清晰性更优异的放射线图像。该闪烁体面板包括支承体、和形成在所述支承体上的闪烁体层,其特征为,所述闪烁体层含有作为柱状晶体的荧光体,所述柱状晶体在从所述闪烁体层的柱状晶体生长起始面到柱状晶体生长结束面为止的闪烁体层的整个厚度方向上形成,就所述闪烁体层而言,在切削到距柱状晶体生长起始面的厚度变成5μm以后,向柱状晶体生长结束面照射X射线进行测定时的特定面指数的X射线摇摆曲线的半值宽度(a)为15°以下,未切削而向柱状晶体生长结束面照射X射线进行测定时的特定面指数的X射线摇摆曲线的半值宽度(b)为15°以下,所述半值宽度(a)相对于半值宽度(b)的比率(a/b)在0.5~2.0的范围内。
搜索关键词: 闪烁 体面 放射线 检测器
【主权项】:
1.一种闪烁体面板,其特征在于,包括支承体和形成在所述支承体上的闪烁体层,所述闪烁体层含有作为柱状晶体的荧光体,所述柱状晶体在从所述闪烁体层的柱状晶体生长起始面到柱状晶体生长结束面为止的闪烁体层的整个厚度方向上形成,对于所述闪烁体层,在切削到距柱状晶体生长起始面的厚度变成5μm以后,向柱状晶体生长结束面照射X射线而进行测定时的柱状晶体的特定面的X射线摇摆曲线的半值宽度a为15°以下,在未进行切削的情况下向柱状晶体生长结束面照射X射线而进行测定时的柱状晶体的特定面的X射线摇摆曲线的半值宽度b为15°以下,半值宽度a相对于所述半值宽度b的比率a/b为0.5~2.0。
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