[发明专利]用于校准电子倍增器中增益的系统和方法在审
| 申请号： | 201510750580.0 | 申请日： | 2015-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN105590829A | 公开（公告）日： | 2016-05-18 |
| 发明（设计）人： | O·斯里弗拉;H·奥瑟;J·T·梅兹 | 申请（专利权）人： | 萨默费尼根有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/10 | 分类号： | H01J49/10;H01J49/26;G01N27/62 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 姬利永 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本申请公开了一种用于校准电子倍增器中增益的系统和方法。用于操作质谱仪的方法包括将一定量的离子供给至离子检测器。该离子检测器可以包括以第一极性运行的转换倍增极和电子倍增器。该方法还包括调节该电子倍增器的增益以确定第一组校准参数，并且从该第一组校准参数计算用于该电子倍增器的第二组校准参数。该第二组校准参数是用于该转换倍增极的第二极性。该方法可以进一步包括将该离子检测器配置成以基于该第二组校准参数的第二极性运行，并且将该第二极性的离子供给至该质谱仪，并且使用该离子检测器检测特定质荷比的离子。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校准 电子倍增器 增益 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种操作质谱仪的方法，包括：将一定量的离子供给至离子检测器，该离子检测器包括以第一极性运行的转换倍增极和电子倍增器；校准该电子倍增器的增益以确定第一组校准参数；从该第一组校准参数计算用于该电子倍增器的第二组校准参数，该第二组的校准参数是用于该转换倍增极的第二极性；将该离子检测器配置成以基于该第二组校准参数的第二极性运行；将该第二极性的离子供给至该质谱仪；并且使用该离子检测器检测特定质荷比的离子。
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