[发明专利]缺陷检测的校验系统及校验方法在审

专利信息
申请号: 201510752522.1 申请日: 2015-11-05
公开(公告)号: CN105427029A 公开(公告)日: 2016-03-23
发明(设计)人: 欧焕权;王剑;宫立军 申请(专利权)人: 广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 刘培培
地址: 510663 广东省广州市广*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种缺陷检测的校验系统,包括:初始设定模块,用于设定各个样品的实际缺陷值;数据输入模块,用于接收输入的各样品的测量缺陷值;判定模块,用于将同一样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比,根据对比的结果确定正判、漏判和误判的样品数量;计算模块,用于计算正判率、漏判率和误判率。本发明能够快速自动地对检验人员的样品缺陷检测进行校验,大大地节省了公司对检验人员的校验时间,提高了校验效率,同时也有效地提升了公司整体的质检水平。
搜索关键词: 缺陷 检测 校验 系统 方法
【主权项】:
一种缺陷检测的校验系统,其特征在于,包括:初始设定模块,用于设定各个样品的实际缺陷值;数据输入模块,用于接收输入的各样品的测量缺陷值;判定模块,用于将同一样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比,根据对比的结果确定正判、漏判和误判的样品数量;计算模块,用于计算正判率、漏判率和误判率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司,未经广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510752522.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top