[发明专利]一种无损测量行波管热阻的方法及装置有效
申请号: | 201510753767.6 | 申请日: | 2015-11-07 |
公开(公告)号: | CN105241921B | 公开(公告)日: | 2018-09-04 |
发明(设计)人: | 冯士维;杨芳;石磊;史冬 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人: | 刘萍 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种无损测量行波管热阻构成的方法及装置,涉及微波真空电子器件检测技术领域。所述装置包括:热阻测试仪、测试探头和被测行波管。所述方法包括:将测试探头放入被测行波管的螺旋线内,测试二极管在工作电源提供的电压与电流下工作时产生的热量经传热触头传递到螺旋线,并经陶瓷夹持杆、管壳散热到周围环境,采集卡采集到加热过程中测试二极管的电学温敏参数的变化,并经计算得到被测行波管的散热通道的热阻构成。本发明实现了非破坏性地测量行波管的热阻构成并定点研究其散热情况,检测散热能力,测量无损伤、周期短、精度高、成本低,较现有技术有着明显的突破性。 | ||
搜索关键词: | 一种 无损 测量 行波 管热阻 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种无损测量行波管热阻构成的装置,其特征在于,包括有:热阻测试仪、测试探头和被测行波管;所述热阻测试仪包括计算机、采集卡、测试电流源、工作电源开关、工作电源;工作电源经工作电源开关控制,为被测器件提供工作电压电流,测试电流源为被测器件提供测试电流,采集卡采集被测器件的电学温敏参数,计算机处理采集到的电学温敏参数;所述测试探头包括测试二极管、传热触头和两根移动杆;传热触头设计为圆柱状,其中一端实心,直径比被测行波管的螺旋线内直径小,另一端空心并沿着圆柱母线方向切割成多个片状物,直径比被测行波管的螺旋线内直径大;测试二极管焊接在传热触头的实心端,一根移动杆焊接在传热触头的空心薄片内,另一根移动杆焊接在测试二极管上;将测试探头放入被测行波管的螺旋线内,传热触头与被测行波管的螺旋线接触,测试二极管与热阻测试仪的工作电源开关、测试电流源和采集卡连接,工作电源与工作电源开关连接并由工作电源开关控制,计算机连接并控制工作电源开关、测试电流源和采集卡。
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