[发明专利]一种DDR快速测量方法在审
| 申请号： | 201510756168.X | 申请日： | 2015-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN105427894A | 公开（公告）日： | 2016-03-23 |
| 发明（设计）人： | 张晓;付猛猛 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 张靖 |
| 地址： | 250101 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种DDR快速测量方法，DDR内存在上系统平台前，先做一次相关的阻抗测试，通过测试工具检查内存单体的好坏，根据测试工具测试的结果，将好的内存上板测试。本发明利用测试工具的功能在测试前期快速的排查内存是否好坏，内存上系统前可以仪器排查，避免造成主板的损伤；保护主板因为异常内存造成的损伤；增加外部测试点位测试，减少直接在内存测试的风险。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ddr 快速 测量方法 | ||
【主权项】：
一种DDR快速测量方法，其特征在于：DDR内存在上系统平台前，先做一次相关的阻抗测试，通过测试工具检查内存单体的好坏，根据测试工具测试的结果，将好的内存上板测试。
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