[发明专利]磁场计测方法以及磁场计测装置有效
申请号: | 201510756467.3 | 申请日: | 2015-11-09 |
公开(公告)号: | CN105589048B | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 长坂公夫 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G01R33/032 | 分类号: | G01R33/032 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 田喜庆;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提议了一种指定存在于计测区域的原磁场的磁场计测方法以及磁场计测装置。光源部(2)向配置于计测区域的气室(3)照射前进方向为z轴方向且电场的振动方向为y轴方向的直线偏振光。偏光计(4)检测透过气室(3)的光的光学特性。磁场发生器(7)向计测区域施加x轴分量、y轴分量、z轴分量为可变的人工磁场。运算控制部(5)使磁场发生器(7)产生在x轴分量和y轴分量中的一个分量为固定值的状态下改变了z轴分量、及x轴分量和y轴分量中的另一个分量的多个人工磁场,并基于偏光计(4)的检测结果算出磁化值或者对应于该磁化值的值,利用磁化值或者对应于该磁化值的值满足极值条件时的人工磁场,算出计测区域中存在的原磁场。 | ||
搜索关键词: | 磁场 方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
一种磁场计测方法,其特征在于,通过磁场计测装置计测计测区域的磁场,在所述磁场计测装置中,第一方向、第二方向和第三方向相互正交,所述磁场计测装置具备:光源部,射出直线偏振光;介质,电场的振动方向为所述第二方向的所述直线偏振光沿所述第三方向照射所述介质,所述介质配置于所述计测区域,使所述直线偏振光的光学特性根据磁场而变化;光学检测器,检测所述光学特性;以及磁场发生器,向所述计测区域施加人工磁场,所述磁场计测方法包括:使所述磁场发生器产生改变了所述第三方向的人工磁场分量的多个人工磁场;基于所述光学检测器的检测结果算出磁化值或者与所述磁化值对应的值,所述磁化值是所述介质的磁化向量的所述第一方向的分量;以及利用所述磁化值或者所述与所述磁化值对应的值满足特定条件时的人工磁场,算出存在于所述计测区域的原磁场。
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