[发明专利]无栅AlInN/GaN场效应晶体管传感器及其制备方法在审
申请号: | 201510781080.3 | 申请日: | 2015-11-13 |
公开(公告)号: | CN105353019A | 公开(公告)日: | 2016-02-24 |
发明(设计)人: | 陈敦军;黄翔宇;贾秀玲;张荣;郑有炓 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | G01N27/414 | 分类号: | G01N27/414;H01L29/772;H01L21/335;C08F292/00;C08F222/38;C08F226/06 |
代理公司: | 北京市京大律师事务所 11321 | 代理人: | 王凝;金凤 |
地址: | 210093 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提出了一种无栅AlInN/GaN场效应晶体管传感器,在AlInN/GaN异质结基片上蒸镀有电极,还包括钝化层,所述钝化层覆盖整个源端电极、源端电极PAD与漏端电极、漏端电极PAD,在覆盖源端电极PAD与漏端电极PAD的钝化层上刻蚀出窗口,深度至PAD显露;还包括离子印迹聚合物层,所述离子印迹聚合物层位于AlInN层上,含有印迹孔穴。还公开了无栅AlInN/GaN场效应晶体管传感器的制备方法。本发明制备的导电高聚物纳米复合材料具有单一离子识别的性能,可以提高器件的选择性吸附、抗干扰能力;与AlGaN/GaN场效应晶体管传感器相比,其电流响应更大,具有高灵敏性的特点。 | ||
搜索关键词: | alinn gan 场效应 晶体管 传感器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种无栅AlInN/GaN场效应晶体管传感器,其结构从下至上依次为:衬底、AlN成核层、GaN缓冲层、AlInN层;还包括源端电极、与源端电极相连的源端电极PAD,漏端电极、与漏端电极相连的漏端电极PAD,所述源端电极、源端电极PAD、漏端电极与漏端电极PAD分别沉积在AlInN层上,还包括钝化层,所述钝化层覆盖整个源端电极、源端电极PAD与漏端电极、漏端电极PAD,在覆盖源端电极PAD与漏端电极PAD的钝化层上刻蚀出窗口,深度至PAD显露;其特征在于:还包括离子印迹聚合物层,所述离子印迹聚合物层位于AlInN层上,源端电极钝化层与漏端电极钝化层之间的区域,所述离子印迹聚合物层含有印迹孔穴。
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