[发明专利]用于估算采样组织参数的方法及用于采样组织的多参数评估的系统有效
申请号: | 201510794987.3 | 申请日: | 2015-11-18 |
公开(公告)号: | CN106691512B | 公开(公告)日: | 2020-06-16 |
发明(设计)人: | 卡尤里·班纳吉·克里什南;尼辛·纳加拉杰;程刚;韩晓东;叶雯婷 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | A61B8/08 | 分类号: | A61B8/08 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 侯颖媖 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开了用于估算采样组织参数的方法,其包括通过使用具有一种采集频率的超声探头和一种采集协议来获得来自采样组织中的第一感兴趣区域和第二感兴趣区域的超声回波信号,并且,基于来自第一和第二感兴趣区域的超声回波信号并使用一种参考仿体来估算出采样组织的一个或多个参数。本发明还公开了用于采样组织的多参数评估的系统,其包括估算模块和评分计算模块。估算模块用于使用上述方法来估算出采样组织的第一参数和第二参数。评分计算模块用于基于采样组织的包括第一参数和第二参数的多个参数来计算出采样组织的定量评分,定量评分代表采样组织的一个或多个特性。 | ||
搜索关键词: | 用于 估算 采样 组织 参数 方法 评估 系统 | ||
【主权项】:
一种用于估算采样组织参数的方法,其包括:通过使用具有一种采集频率的超声探头和一种采集协议来获得来自采样组织中的第一感兴趣区域和第二感兴趣区域的超声回波信号;及基于来自所述第一和所述第二感兴趣区域的所述超声回波信号并且使用一种参考仿体来估算出所述采样组织的一个或多个参数。
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