[发明专利]光传感器的性能检测方法和医学成像设备有效
| 申请号： | 201510801821.X | 申请日： | 2015-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN106725560B | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 陈泽 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 樊春燕 |
| 地址： | 201807 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光传感器的性能检测方法，包括：利用表现出至少一个特征辐射的固有放射性的闪烁元件产生本底辐射，所述闪烁元件响应于所述本底辐射产生闪烁光；利用光传感器产生与所述闪烁光的光量相应的脉冲状电信号；根据来自所述光传感器的电信号生成单事件数据，累积获取所述光传感器上的单事件计数；将所述光传感器上的单事件计数与预设阈值比较，确定所述光传感器的性能是否符合要求。本发明使用无源性能检测方法来检测PET设备中光传感器的工作状态。医院技师在不接触放射源的情况下，即可对设备性能进行检测，方法简单、易操作。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 性能 检测 方法 医学 成像 设备 | ||
【主权项】：
一种光传感器的性能检测方法，其特征在于，包括以下步骤：利用表现出至少一个特征辐射的固有放射性的闪烁元件产生本底辐射，所述闪烁元件响应于所述本底辐射产生闪烁光；利用光传感器产生与所述闪烁光的光量相应的脉冲状电信号；根据来自所述光传感器的电信号生成单事件数据，累积获取所述光传感器上的单事件计数；将所述光传感器上的单事件计数与预设阈值比较，确定所述光传感器的性能是否符合要求。
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