[发明专利]面向字的内存测试方法在审
| 申请号： | 201510808092.0 | 申请日： | 2015-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN105468485A | 公开（公告）日： | 2016-04-06 |
| 发明（设计）人： | 李岩 | 申请（专利权）人： | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 孟阿妮;郭栋梁 |
| 地址： | 201114 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种面向字的内存测试方法，包括：针对不同的待测内存错误类型，根据内存芯片位宽各自生成内存测试模型序列；利用生成的各所述内存测试模型序列进行内存测试。本发明根据内存芯片位宽生成内存测试模型序列，采用了面向字的设计方式生成内存测试模型序列，充分利用内存位宽，提高了内存测试的效率；本发明进一步通过列举错误状态的集合，再精简集合中冗余的错误状态，得到包含所有需要覆盖的错误状态的最简闭环双位测试序列，并导入至根据内存芯片位宽生成的基础模型序列，生成内存测试模型序列，利用生成的内存测试模型序列进行内存测试，实现了对每两位之间采用最短路径检测所有需要覆盖的错误状态，最终实现了对耦合故障的高效检测。 | ||
| 搜索关键词： | 面向 内存 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种面向字的内存测试方法，其特征在于，包括：针对不同的待测内存错误类型，根据内存芯片位宽各自生成内存测试模型序列；利用生成的各所述内存测试模型序列进行内存测试。
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