[发明专利]降低缓存命中率的内存测试方法有效
申请号: | 201510808418.X | 申请日: | 2015-11-19 |
公开(公告)号: | CN105373456B | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 李岩 | 申请(专利权)人: | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 孟阿妮;郭栋梁 |
地址: | 201114 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种降低缓存命中率的内存测试方法,包括:将待测内存划分为若干预设大小的内存区段;将预设的内存测试算法划分为若干测试步骤;对所述若干内存区段依次执行所述若干测试步骤;其中,在每一所述内存区段执行任意两个连续的所述测试步骤之间,至少对另一所述内存区段执行一所述测试步骤。本发明通过依次对不同的内存区段执行测试步骤,实现了缓存无法持续形成有效的关注区段,使得缓存状态一直在抖动,降低了缓存命中率,从而提高了内存测试的有效性;并进一步通过监测并统计所述内存测试算法执行过程的执行时间与缓存命中,根据统计结果优化内存测试算法的测试步骤划分,从而兼顾考虑内存测试的效率和有效性,优化所述内存测试方法。 | ||
搜索关键词: | 内存测试 测试步骤 内存区段 缓存命中率 算法 缓存 缓存命中 缓存状态 算法执行 统计结果 抖动 预设 内存 优化 干预 监测 统计 | ||
【主权项】:
1.一种降低缓存命中率的内存测试方法,其特征在于,包括:将待测内存划分为若干预设大小的内存区段;将预设的内存测试算法划分为若干测试步骤;对所述若干内存区段依次执行所述若干测试步骤;其中,在每一所述内存区段执行任意两个连续的所述测试步骤之间,至少对另一所述内存区段执行一所述测试步骤;所述预设大小为测试所采用处理器的三级缓存大小;所述对所述若干内存区段依次执行所述若干测试步骤之后还包括:监测并统计所述内存测试算法执行过程的执行时间与缓存命中,根据统计结果优化所述内存测试算法的测试步骤划分。
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