[发明专利]一种测试元件组及其制作方法、阵列基板及显示装置在审
申请号: | 201510824468.7 | 申请日: | 2015-11-24 |
公开(公告)号: | CN105259722A | 公开(公告)日: | 2016-01-20 |
发明(设计)人: | 詹裕程;张帅 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362;G02F1/1368;G01R31/27;G01R31/28 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 黄灿;胡影 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种测试元件组及其制作方法、阵列基板及显示装置,该测试元件组包括多个待测试元件以及多个用于对所述待测试元件进行测试的测试电极,每一所述待测试元件与至少两个所述测试电极连接,其中,所述多个测试电极中包括至少一个测试电极,由至少两个待测试元件共用。本发明可减少测试电极的个数,降低测试成本以及测试元件组占用的空间,同时,对共用测试电极的不同待测试元件进行测试时,无需移动测试装置与共用测试电极的连接,降低了测试时间,提高了测试的时效性。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 元件 及其 制作方法 阵列 显示装置 | ||
【主权项】:
一种测试元件组,包括多个待测试元件以及多个用于对所述待测试元件进行测试的测试电极,每一所述待测试元件与至少两个所述测试电极连接,其特征在于,所述多个测试电极中包括至少一个测试电极,由至少两个待测试元件共用。
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