[发明专利]一种叶片表面铝硅渗层厚度的检测方法

摘要

一种叶片表面铝硅渗层厚度的检测方法，进行渗层厚度测量的热电检测装置由冷端探头、热端探头、温控装置、电动势指示装置、调零装置和电源显示装置构成；冷、热端探头未接触零件时，热电势值应为“0”，如果有偏差，采用调零旋钮进行调整；电动势指示装置能够测量到零件上的热电势值，并将其指示出来；热电势值的大小反映出深层的厚度信息；制作三片标准试片，此三片试片用于确定叶片表面渗层厚度合格与否的依据。本发明的优点：可以实现对涡轮叶片表面铝硅渗层厚度的无损测量，检测时不损伤叶片的性能和外观尺寸，检测结果准确、效率高，对保证产品质量和安全具有重要作用。

主权项

1.一种叶片表面铝硅渗层厚度的检测方法，其特征在于：所述的叶片表面铝硅渗层厚度的检测方法，进行渗层厚度测量的热电检测装置由冷端探头、热端探头、温控装置、电动势指示装置、调零装置和电源显示装置构成；通电后，热端探头内的电阻产生热，由温控装置保持热端探头的温度在340℃；冷、热端探头未接触零件时，热电势值应为“0”，如果有偏差，采用调零旋钮进行调整；将热端探头放置在零件被检部位，零件局部温度升高，此时在零件被检部位将有热电势产生，将冷端探头放置在零件的另一部位，与热端探头通过零件导通，则电动势指示装置能够测量到零件上的热电势值，并将其指示出来；热电势值的大小反映出渗层的厚度信息；采用与被检零件相同的材料制作不同厚度的铝硅渗层试片，在显微镜下精确测量渗层的厚度值，然后采用热电检测装置依次进行测量，绘制热电势值与铝硅渗层厚度的对应关系曲线，建立坐标曲线；在对零件铝硅渗层测量时，可以通过测量的热电势值直接从坐标曲线上查出对应的实际铝硅渗层的厚度；采用与被检零件相同的材料另外制作三片标准试片，试片一为无渗层的裸面，试片二上制备允许最小厚度的铝硅渗层，试片三上制备允许的最大厚度铝硅渗层；此三片标准试片是用于确定叶片表面渗层厚度合格与否的依据。