[发明专利]温度影响下近红外校正模型的无测点补偿建模方法在审
申请号: | 201510827829.3 | 申请日: | 2015-11-24 |
公开(公告)号: | CN105300924A | 公开(公告)日: | 2016-02-03 |
发明(设计)人: | 栾小丽;王志国;刘飞 | 申请(专利权)人: | 江南大学 |
主分类号: | G01N21/359 | 分类号: | G01N21/359 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214122 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公布了一种在温度影响下,近红外校正模型的无测点补偿建模方法,包括采集样品,获取规定温度下样品的实验室数据,再针对同一样品在不同温度水平下分别收集近红外光谱数据。然后对所采集的光谱进行不同的预处理以及统计异常值处理,使得预处理光谱数据的主元模式都在一个统计可信度之内;最后采用偏最小二乘算法将温度作为隐含变量建立物性参数校正模型。本发明将温度作为非分离隐含因素变量参与到近红外建模过程中,因而在使用近红外测量时,可以依赖模型本身对温度的适应性完成不同温度下的物性测量,不需要直接测量温度信息和相关计算,提高了模型的适用范围和对温度的鲁棒性。 | ||
搜索关键词: | 温度 影响 红外 校正 模型 无测点 补偿 建模 方法 | ||
【主权项】:
一种近红外光谱测量中受温度影响的无测点温度修正建模方法,其特征在于该方法包括如下步骤:步骤一:采集多个样品的物性参数实验室标准数据,并针对同一样品进行不同温度水平下的近红外光谱采集;步骤二:对步骤一中所采集的近红外光谱进行不同的预处理并做比较;步骤三:对步骤二中产生的近红外光谱进行统计异常值处理;步骤四:以待测物性参数在所规定温度的原始数据为预测变量,以预处理后不同温度水平下的光谱波数为自变量,建立物性参数近红外校正模型。
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