[发明专利]光电组件及其制造方法在审
申请号: | 201510830719.2 | 申请日: | 2015-11-25 |
公开(公告)号: | CN105428437A | 公开(公告)日: | 2016-03-23 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 王所杰 |
主分类号: | H01L31/04 | 分类号: | H01L31/04;H01L31/0216;H01L31/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 266000 山东省青岛市*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明提供一种光电组件及其制造方法。根据本发明之光电组件包含一半导体结构组合、形成在该半导体结构组合之上表面之一第一表面钝化层以及形成该第一表面钝化层上之一第二表面钝化层。该半导体结构组合包含至少一p-n接面。特别地,该第一表面钝化层的界面缺陷密度小于该第二表面钝化层的界面缺陷密度,并且该第二表面钝化层的固定氧化层电荷值大于该第一表面钝化层的固定氧化层电荷值。 | ||
搜索关键词: | 光电 组件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种光电组件,包含:一半导体结构组合,该半导体结构组合包含至少一p‑n接面(p‑n junction)并且具有一上表面;一第一表面钝化层,该第一表面钝化层系形成以覆盖该半导体结构组合之该上表面,该第一表面钝化层具有一第一界面缺陷密度(interfacial state density,Dit)与一第一固定氧化层电荷(fixed oxide charge,Qf);以及一第二表面钝化层,该第二表面钝化层系形成以覆盖该第一表面钝化层,该第二表面钝化层具有一第二界面缺陷密度与一第二固定氧化层电荷;其中该第一界面缺陷密度小于该第二界面缺陷密度,并且该第二固定氧化层电荷值大于该第一固定氧化层电荷值。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的