[发明专利]光电测距仪和包括光电测距仪的测量仪器有效

专利信息
申请号: 201510844147.3 申请日: 2015-11-26
公开(公告)号: CN105674950B 公开(公告)日: 2019-08-13
发明(设计)人: 雷托·施图茨;J·辛德林 申请(专利权)人: 赫克斯冈技术中心
主分类号: G01C1/02 分类号: G01C1/02;G01C3/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 吕俊刚;刘久亮
地址: 瑞士赫*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 光电测距仪和包括光电测距仪的测量仪器。一种具有类激光光源的测距仪。本发明涉及具体用于激光扫描仪、激光跟踪仪、断面仪、经纬仪或全站仪的测距仪。在本发明的一具体实施方式中,所述测距仪的被设置用于发射脉冲化光信号的光源在此被设置为光纤放大器(例如,EDFA,即,掺铒光纤放大器),其通过按脉冲化方式操作的超辐射发光二极管(SLD)以光学方式泵浦。
搜索关键词: 具有 激光 光源 测距仪
【主权项】:
1.一种光电测距仪(1),所述光电测距仪至少包括:·发光装置(2),所述发光装置用于发射至少一个光信号;·接收器(3),所述接收器用于检测从目标物体(5)散射回的光信号;以及·控制与估计组件,所述控制与估计组件用于确定与所述目标物体(5)的距离,其中,所述确定基于脉冲渡越时间测量法,其特征在于,所述发光装置(2)至少包括·作为主光源(11)的光谱宽带光源;以及·光学放大器(14),所述光学放大器(14)设置在所述主光源(11)的下游,其中,所述光学放大器(14)的有源泵浦介质用作没有谐振器的光放大器,其中,所述光学放大器被精确地设置并实施成利用具有短和/或长占空比的调制序列来进行操作。
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