[发明专利]一种衡量天线罩对天线阵列测向性能影响的方法

摘要

本发明公开了一种衡量天线罩对天线阵列测向性能影响的方法，具体为：确定天线阵列中各天线坐标、各天线等效口面数据、天线罩的几何模型等参数；利用物理光学法计算得到各天线在罩外远区产生的电场幅值和相位；对天线阵列中任意天线单元，计算此天线单元的插入相位移；计算相位误差，即两两天线单元插入相位移的差值；计算天线阵列系统中任意两天线的相位误差的平均值，最后计算两天线相位误差与平均值的差值，即天线罩的相位不一致性，用于衡量天线罩对天线阵列电性能的影响程度。与现有技术相比，本方法具有不需要了解天线罩内部天线阵列的工作模式及辐射特性；减小计算的复杂性和工作量；利于特殊系统的要求等优点。

主权项

一种衡量天线罩对天线阵列测向性能影响的方法，其特征在于，通过与测向性能具有正相关系的带天线罩天线阵列系统中两两天线的相位不一致性，来衡量天线罩影响内部天线阵列测向精度，具体为：步骤1，确定天线工作频率、各个天线口面场数据、天线阵列位置坐标、各天线水平及俯仰角度；步骤2，建立天线罩结构的几何模型，设置各层厚度及介电常数，并对天线罩模型进行网格剖分；步骤3，确定天线罩外远区场的观察位置，扫描角范围及扫描步长；步骤4，利用远场积分公式，计算天线阵列中各天线在罩外远区场产生的电场幅值和相位；步骤5，对天线阵列中任意天线，计算其带罩远区场电场相位和不带罩远区场电场相位的差值，作为该天线的插入相位移；步骤6，对天线阵列中任意两天线，计算两者插入相位移的差值，作为该两天线的相位误差；步骤7，根据步骤6中得到的相位误差，计算相位误差的平均值；对天线阵列中任意两天线，该两天线的相位误差与相位误差平均值的差值，即为带天线罩的天线阵列系统中两两天线的相位不一致性，从而以此衡量系统的测向精度。