[发明专利]一种波长修正式多光束角阶梯反射镜激光干涉仪及其测量方法在审
申请号: | 201510848301.4 | 申请日: | 2015-11-27 |
公开(公告)号: | CN105509636A | 公开(公告)日: | 2016-04-20 |
发明(设计)人: | 许诚昕;徐承成;李运洪;刘俊;张白 | 申请(专利权)人: | 成都信息工程大学 |
主分类号: | G01B9/02 | 分类号: | G01B9/02;G01B11/02 |
代理公司: | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人: | 韩洋 |
地址: | 610225 四川省成都*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: |
本发明公开了一种波长修正式多光束角阶梯反射镜激光干涉仪,包括激光源、分光镜、固定阶梯平面角反射镜、测量角反射镜装置、光电探测器组,其中测量角反射镜装置包括测量角反射镜与精密位移装置,激光源包括n,个平行激光束,n≥2,光电探测器组包括n个光电探测器件,固定阶梯平面角反射镜的反射面为n个阶梯平面,相邻两个反射平面间距为 |
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搜索关键词: | 一种 波长 修正 光束 阶梯 反射 激光 干涉仪 及其 测量方法 | ||
【主权项】:
一种波长修正式多光束角阶梯反射镜激光干涉仪,包括激光源(1)、分光镜(2)、固定阶梯平面角反射镜(3)、测量角反射镜装置(4)、光电探测器组(5),其特征在于:所述测量角反射镜装置(4)包括测量角反射镜(7)与精密位移装置(6),所述测量角反射镜(7)设置在所述精密位移装置(6)上,所述精密位移装置(6)设置在被测物体上,所述精密位移装置(6)为所述测量角反射镜(7)提供与被测物体位移同向或反向的位移;所述激光源(1)包括n个平行激光束,其中n≥2,所述光电探测器组(5)包括n个光电探测器件;所述固定阶梯平面角反射镜(3)包括成直角的两个反射阶梯面,每个所述反射阶梯面包括n个成阶梯形的反射平面,相邻两个反射平面的间距等于
其中k为自然数、λ为激光源(1)发出的激光波长,所述测量角反射镜(7)包括成直角的两个反射平面;所述激光源(1)发出的每束激光经过所述分光镜(2)反射后,分别射入对应一个反射平面,每个所述反射平面将每束激光反射到对应的所述光电探测器组(5)的各个光电探测器件;所述激光源(1)发出的每束激光经过所述分光镜(2)透射后,分别入射到所述测量角反射镜(7)后反射到对应的光电探测器组(5)的各个光电探测器件。
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