[发明专利]一种基于重要性采样技术的LDPC码打孔方法有效

专利信息
申请号: 201510859069.4 申请日: 2015-11-30
公开(公告)号: CN105356890B 公开(公告)日: 2019-03-12
发明(设计)人: 周林;黄伟成;贺玉成;陈晓鹏;邱丽鹏;鲁紫君 申请(专利权)人: 华侨大学
主分类号: H03M13/11 分类号: H03M13/11
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 张松亭
地址: 362000*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明中的基于重要性采样技术的LDPC码打孔方法首先利用重要性采样技术搜索出LDPC码译码过程中陷入陷阱集的错误比特位置,然后将这些错误比特位置做为一个新的选择标准,加入到之前的打孔方法中,由新设计的打孔方法构造的不同速率的码字,该LDPC码打孔方法可以适应各种信道的打孔方法,以改善LDPC码的误码率性能,在瀑布区和错误平层区都有较好的译码性能,能有效地降低了打孔码字的错误平层。
搜索关键词: 一种 基于 重要性 采样 技术 ldpc 打孔 算法
【主权项】:
1.一种基于重要性采样技术的LDPC码打孔方法,其特征在于:包括以下步骤:1)对LDPC码在某一信道下,进行仿真,找到LDPC码的性能曲线进入错误平层时的信噪比阈值;2)在此信噪比阈值下,利用重要采样技术,对LDPC码进行错误冲击,并记录下造成LDPC码译码错误的节点位置和错误次数;3)根据步骤2)记录的错误次数,由大到小,对相应的节点进行排序,这些节点都是对LDPC码译码性能危害较大的点,随着此序列的顺序,节点危害性逐步降低,将此序列分成m组,分别为Sm,Sm‑1,…,S1;4)依据目标码率R′,计算需要删除的校验比特个数其中N为母码的长度,K为信息位长度;5)按照一定规则选择出符合要求的节点,构成集合Ω2;6)如果集合Ω2与集合Sm的交集不为空,则在它们的交集中随机选择一个节点作为打孔节点,否则就持续寻找集合Ω2与集合Sm‑1的交集,如果直到集合Ω2与集合S1的交集也为空,就在集合Ω2中随机选择一个节点作为打孔节点;7)重复操作步骤5)、6),直至符合删除比特的个数Np,达到目标码率。
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