[发明专利]布局检查系统及其方法有效
| 申请号： | 201510861988.5 | 申请日： | 2015-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN105335583B | 公开（公告）日： | 2019-04-19 |
| 发明（设计）人： | 曾协淳;郑永健 | 申请（专利权）人： | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 郭国中 |
| 地址： | 201114 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种布局检查系统及其方法，其中布局检查系统包含记忆单元与处理单元。记忆单元用以储存布局档。处理单元电性耦接该记忆单元并用以执行以下步骤。由复数个零件名称中选取复数个电子特性字符串。零件名称对应该布局档内的复数个零件。将电子特性字符串转换为复数个电子特性数值。将电子特性数值与参考值比较以决定至少一特定零件。列出至少一特定零件。本发明提供的布局检查系统及其方法可准确且有效率地列出电路设计中特定电子特性数值的零件与其所属线路，从而缩短电路布局的设计时间以及降低人为疏失的可能。 | ||
| 搜索关键词： | 布局 检查 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种布局检查方法，其特征在于，所述布局检查方法包含：由复数个零件名称中选取复数个电子特性字符串，其中所述零件名称对应一布局档内的复数个零件；将所述电子特性字符串转换为复数个电子特性数值；将所述电子特性数值与一参考值比较以决定至少一特定零件；以及列出所述至少一特定零件；所述至少一特定零件的至少一电子特性数值等于所述参考值；所述布局检查方法还包含：由所述布局档中选择所述零件；所述列出至少一特定零件的步骤包含：列出所述至少一特定零件每一者的一线路名称、一零件名称与一材料编号；所述电子特性数值为电阻值。
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