[发明专利]半导体加工设备在审

专利信息
申请号: 201510867500.X 申请日: 2015-12-01
公开(公告)号: CN106816398A 公开(公告)日: 2017-06-09
发明(设计)人: 李广 申请(专利权)人: 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01J37/32
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 彭瑞欣,张天舒
地址: 100176 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种半导体加工设备,包括反应腔室、工艺气路和吹扫装置,其中,在反应腔室内设置有用于固定晶片的承载装置;工艺气路用于向反应腔室内输送工艺气体。吹扫装置包括进气管路和气源,其中,气源用于向进气管路提供吹扫气体;进气管路设置在反应腔室的腔室壁内,且进气管路的进气端与气源连接,进气管路的出气端设置在反应腔室的腔室侧壁上,用以朝向晶片上表面、且沿平行于晶片上表面的方向输送吹扫气体。本发明提供的半导体加工设备,其可以在工艺前后清除掉落在晶片上表面的颗粒,从而可以避免部分刻蚀缺陷,进而可以提高产品良率。
搜索关键词: 半导体 加工 设备
【主权项】:
一种半导体加工设备,包括反应腔室和工艺气路,其中,在所述反应腔室内设置有用于固定晶片的承载装置;所述工艺气路用于向所述反应腔室内输送工艺气体,其特征在于,还包括吹扫装置,所述吹扫装置包括进气管路和气源,其中,所述气源用于向所述进气管路提供所述吹扫气体;所述进气管路设置在所述反应腔室的腔室壁内,且所述进气管路的进气端与所述气源连接,所述进气管路的出气端设置在所述反应腔室的腔室侧壁上,用以朝向所述晶片上表面、且沿平行于所述晶片上表面的方向输送吹扫气体。
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