[发明专利]逻辑测试装置及方法在审
| 申请号： | 201510884678.5 | 申请日： | 2015-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN106841973A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 孙轶群 | 申请（专利权）人： | 深圳市盛德金科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙)11446 | 代理人： | 武玉琴,刘国伟 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种逻辑测试装置及方法，包括配置存储模块、可编程门阵列处理模块、被测装置信号接口模块、数据传输接口模块、被测装置供电模块、显示接口模块以及发光模块；所述可编程门阵列处理模块分别与配置存储模块、被测装置信号接口模块、数据传输接口模块、被测装置供电模块、显示接口模块以及发光模块连接。通过本发明能够实现灵活调整测试通道的信号带宽、将逻辑测试过程与测例下载过程独立开、减小测试设备体积、降低操作人员要求、降低测试成本以及提高了设备使用的灵活性的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 逻辑 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种逻辑测试装置，其特征在于，包括配置存储模块、可编程门阵列处理模块、被测装置信号接口模块以及发光模块；所述配置存储模块，用于固化存储测例以及配置文件；所述可编程门阵列处理模块，用于对测试信号的发送以及处理；所述被测装置信号接口模块，用于接收被测装置回馈的信号以及向被测装置发送测试信号；所述发光模块，用于根据测试结果给出相应的发光提示；所述配置存储模块与可编程门阵列处理模块连接，所述可编程门阵列处理模块分别与所述被测装置信号接口模块以及发光模块连接。
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