[发明专利]一种基于最小二乘残差边缘检验的完好性处理方法在审

专利信息
申请号: 201510886494.2 申请日: 2015-12-07
公开(公告)号: CN105549033A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 贾小波;王倩倩;邹世合;吴淑琴;赵平丽 申请(专利权)人: 郑州威科姆科技股份有限公司
主分类号: G01S19/20 分类号: G01S19/20
代理公司: 郑州中原专利事务所有限公司 41109 代理人: 霍彦伟;李想
地址: 450002 河南省郑*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种基于最小二乘残差边缘检验的完好性处理方法,包括如下步骤:1)计算各个卫星对应的最小二乘残差;2)对各个卫星对应的最小二乘残差进行排序处理,选择排序前N1个及后N2个的残差边缘值作为预选故障星检验对象;3)依次剔除一颗步骤2确定的预选故障星,进行用户状态最小二乘方程解算并依据解算的残差计算对应的验后单位权中误差;4)对经过步骤3计算的N1+N2个验后单位权中误差进行排序处理,以最小二乘残差均方根最小值对应的那颗卫星为故障星。本发明无需进行要求严格的RAIM完善性保证,通过试验表明本发明基于最小二乘残差边缘检验的RAIM算法可以正确地识别出故障卫星,是一种用户端的简便、快速、有效的故障卫星识别方法。
搜索关键词: 一种 基于 最小 二乘残差 边缘 检验 完好 处理 方法
【主权项】:
一种基于最小二乘残差边缘检验的完好性处理方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤1、接收机天线捕获并跟踪来自卫星的信号,根据导航电文剔除异常卫星;步骤2、根据接收卫星数量,进行载噪比和仰角融合剔星,剔除异常卫星;步骤3、根据不同的观测卫星数量,设置最多可剔除的卫星数NT,残差最大门限值Td,定位精度要求下的误差门限值бT;步骤4、检测当前故障星总数是否小于等于NT,若是,转到步骤5,若否,转到步骤10;步骤5、选取当前全部可用卫星计算基于伪距残差向量的验后单位权中误差б及残差绝对值最大值Vmax,检测验后单位权中误差б是否满足小于等于误差门限值бT及残差绝对值最大值Vmax是否满足小于等于残差最大门限值Td,如果都满足要求则转到步骤9;否则转到步骤6;步骤6、对各个卫星对应的最小二乘残差按大小带正负符号排序,选取前N1个和后N2个的残差边缘值作为预选故障星检验对象,即“拟故障卫星”;步骤7、依次剔除一颗“拟故障卫星”,进行最小二乘定位解算并根据残差计算定位误差;步骤8、 对经过步骤7计算的N1+N2个定位误差进行排序,认为最小验后单位权中误差对应的那颗“拟故障卫星”为故障星,转到步骤4;步骤9、故障卫星已剔除,输出结果;步骤10、无法判断是否存在故障卫星,输出结果。
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