[发明专利]一种电子元件定位方法及装置有效
| 申请号： | 201510890921.4 | 申请日： | 2015-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN105588840B | 公开（公告）日： | 2019-01-25 |
| 发明（设计）人： | 雷延强 | 申请（专利权）人： | 广州视源电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01R31/28;G06K9/62 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 麦小婵;郝传鑫 |
| 地址： | 510663 广东省广州市高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子元件定位方法，包括如下步骤：基于预设尺寸的检测窗截取待检测电路板图像上的子图像；根据已建立好的预定电子元件的检测模型对所述子图像进行检测；其中，所述预定电子元件的检测模型通过对正样本图片及负样本图片进行训练获得，所述正样本图片为包含有所述预定电子元件的图片，所述负样本图片为不包含有所述预定电子元件的图片；当确定所述子图像为所述预定电子元件的图像时，将所述子图像标记为目标子图像，并记录所述目标子图像在所述待检测电路板图像上的位置信息。本发明还公开了一种电子元件定位装置，可快速准确的在待检测电路板图像上定位出预定电子元件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元件 定位 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子元件定位方法，其特征在于，包括如下步骤：基于预设尺寸的检测窗截取待检测电路板图像上的子图像；其中，在截取完当前区域的子图像后，按照预定的方向移动所述检测窗，且每移动一次后会截取一次子图像；其中，所述检测窗的尺寸根据预定电子元件的大小进行设定；根据已建立好的预定电子元件的检测模型对所述子图像进行检测；其中，所述预定电子元件的检测模型通过对正样本图片及负样本图片进行训练获得，所述正样本图片为包含有所述预定电子元件的图片，所述负样本图片为不包含有所述预定电子元件的图片；当确定所述子图像为所述预定电子元件的图像时，将所述子图像标记为目标子图像，并记录所述目标子图像在所述待检测电路板图像上的位置信息。
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