[发明专利]一种服务器设备机内测试BIT设计方法

摘要

本发明公开了一种服务器设备机内测试BIT设计方法，所述服务器在系统结构上按照整机及单元划分为两个层次：模块级现场可更换单元LRU和芯片级功能电路，每个功能单元可独立进行测试；服务器各功能单元之间主要通过网络电缆进行连接，可通过管理单元对各单元的电压、温度及其工作状态进行监控和管理；所述方法按框架结构分为三级：分布式测试及采集处理、信息状态集中处理、显示及操作。本发明具有较高的故障诊断能力，并能将故障隔离到各单元（LRU）；且能够进行充分测试，通过测试覆盖设备电路系统所有可能发生的故障来确保设备的可靠性和安全性，大大提高了设备的可靠性和可测试性。

主权项

一种服务器设备机内测试BIT设计方法，其特征在于：所述服务器在系统结构上按照整机及单元划分为两个层次：模块级现场可更换单元LRU和芯片级功能电路，每个功能单元可独立进行测试；服务器各功能单元之间主要通过网络电缆进行连接，可通过管理单元对各单元的电压、温度及其工作状态进行监控和管理；所述方法按框架结构分为三级：分布式测试及采集处理、信息状态集中处理、显示及操作，实现过程如下：第一级、分布式测试及采集处理：通过自测试及采集电路，直接嵌入各单元LRU中实现；第二级、信息状态集中处理，通过整机的采集处理电路，管理单元通过管理总线实时采集自测试及采集处理电路所测得的状态信息；第三级、显示及操作：整机的信息状态通过嵌装在管理单元上的显控终端进行显示和处理；并且可通过管理网络对外发布整机的状态。