[发明专利]一种轴类部件微变形测量的方法在审
| 申请号： | 201510896506.X | 申请日： | 2015-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN105403167A | 公开（公告）日： | 2016-03-16 |
| 发明（设计）人： | 孙万超;高翔;燕群;黄文超 | 申请（专利权）人： | 中国飞机强度研究所 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京航信高科知识产权代理事务所(普通合伙) 11526 | 代理人： | 刘丽萍 |
| 地址： | 710065*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种轴类部件微变形测量的方法。所述轴类部件微变形测量的方法包括如下步骤：步骤1：在待测轴类部件的预测量位移位置上设置标志点，并获取所述待测轴类部件的几何参数标志点坐标，该坐标为第一坐标；步骤2：使待测轴类部件受力，从而受力变形，并获得在不同时刻多次记录标志点的位移，从而获得各个时刻的标志点的位移坐标；步骤3：根据所述步骤1以及所述步骤2中的数据，通过坐标增量法计算待测轴类部件的扭转角度、摆动角度以及轴向位移。本发明的轴类部件微变形测量的方法不仅适用于光路在同一平面内的试验测量，还适用于转动、摆动情况下的测量，相对于现有技术，具有适用范围广、精度高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 部件 变形 测量 方法 | ||
【主权项】：
一种轴类部件微变形测量的方法，其特征在于，所述轴类部件微变形测量的方法包括如下步骤：步骤1：在待测轴类部件的预测量位移位置上设置标志点，并获取所述待测轴类部件的几何参数标志点坐标，该坐标为第一坐标；步骤2：使待测轴类部件受力，从而受力变形，并获得在不同时刻多次记录标志点的位移，从而获得各个时刻的标志点的位移坐标；步骤3：根据所述步骤1以及所述步骤2中的数据，通过坐标增量法计算待测轴类部件的扭转角度、摆动角度以及轴向位移。
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