[发明专利]基于LTPS半导体薄膜晶体管的GOA电路在审

专利信息
申请号: 201510899904.7 申请日: 2015-12-07
公开(公告)号: CN105336302A 公开(公告)日: 2016-02-17
发明(设计)人: 李亚锋 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G09G3/36 分类号: G09G3/36
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种基于LTPS半导体薄膜晶体管的GOA电路,通过正向扫描直流控制信号(U2D)和反向扫描直流控制信号(D2U)控制第一、第二、及第三节点(Q(n)、P1(n)、P2(n))的电位,时钟信号(CK(M))仅负责对应级GOA单元的输出,能够有效的降低时钟信号的负载,保证多级GOA单元连接后时钟信号的整体负载降低,提升GOA电路的输出稳定性,还可以实现GOA电路的正反向扫描。
搜索关键词: 基于 ltps 半导体 薄膜晶体管 goa 电路
【主权项】:
一种基于LTPS半导体薄膜晶体管的GOA电路,其特征在于,包括:级联的多级GOA单元,每一级GOA单元均包括:扫描控制单元(100)、正向扫描下拉单元(200)、反向扫描下拉单元(300)、及输出单元(400);设n为正整数,除第一级、第二级、倒数第二级、及最后一级GOA单元外,在第n级GOA单元中:所述扫描控制单元(100)包括:第一薄膜晶体管(T1),所述第一薄膜晶体管(T1)的栅极电性连接于上两级第n‑2级GOA单元的输出端(G(n‑2)),源极电性连接于正向扫描直流控制信号(U2D),漏极电性连接于第四薄膜晶体管(T4)的源极;第三薄膜晶体管(T3),所述第三薄膜晶体管(T3)的栅极电性连接于下两级第n+2级GOA单元的输出端(G(n+2)),漏极电性连接于第四薄膜晶体管(T4)的源极,源极电性连接于反向扫描直流控制信号(D2U);以及第四薄膜晶体管(T4),所述第四薄膜晶体管(T4)的栅极电性连接于恒压高电位(VGH),漏极电性连接于第一节点(Q(n));所述正向扫描下拉单元(200)包括:第五薄膜晶体管(T5),所述第五薄膜晶体管(T5)的栅极电性连接于正向扫描直流控制信号(U2D),源极电性连接于恒压高电位(VGH),漏极电性连接于第二节点(P1(n));第六薄膜晶体管(T6),所述第六薄膜晶体管(T6)的栅极电性连接于反向扫描直流控制信号(D2U),漏极电性连接于第二节点(P1(n)),源极电性连接于恒压低电位(VGL);第十三薄膜晶体管(T13),所述第十三薄膜晶体管(T13)的栅极电性连接于第一节点(Q(n)),漏极电性连接于第二节点(P1(n)),源极电性连接于恒压低电位(VGL);第九薄膜晶体管(T9),所述第九薄膜晶体管(T9)的栅极电性连接于第二节点(P1(n)),源极电性连接于恒压低电位(VGL),漏极电性连接于第一节点(Q(n));以及第十薄膜晶体管(T10),所述第十薄膜晶体管(T10)的栅极电性连接于第二节点(P1(n)),源极电性连接于恒压低电位(VGL),漏极电性连接于输出端(G(n));所述反向扫描下拉单元(300)包括:第八薄膜晶体管(T8),所述第八薄膜晶体管(T8)的栅极电性连接于正向扫描直流控制信号(U2D),源极电性连接于恒压低电位(VGL),漏极电性连接于第三节点(P2(n));第七薄膜晶体管(T7),所述第七薄膜晶体管(T7)的栅极电性连接于反向扫描直流控制信号(D2U),源极电性连接于恒压高电位(VGH),漏极电性连接于第三节点(P2(n));第十四薄膜晶体管(T14),所述第十四薄膜晶体管(T14)的栅极电性连接于第一节点(Q(n)),漏极电性连接于第三节点(P2(n)),源极电性连接于恒压低电位(VGL);第十一薄膜晶体管(T11),所述第十一薄膜晶体管(T11)的栅极电性连接于第三节点(P2(n)),源极电性连接于恒压低电位(VGL),漏极电性连接于第一节点(Q(n));以及第十二薄膜晶体管(T12),所述第十二薄膜晶体管(T12)的栅极电性连接于第三节点(P2(n)),源极电性连接于恒压低电位(VGL),漏极电性连接于输出端(G(n));所述输出单元(400)包括:第二薄膜晶体(T2),所述第二薄膜晶体管(T2)的栅极电性连接于第一节点(Q(n)),源极电性连接于第M条时钟信号(CK(M)),漏极电性连接于输出端(G(n));以及自举电容(C1),所述自举电容(C1)的一端电性连接于第一节点(Q(n)),另一端电性连接于输出端(G(n));所述正向扫描直流控制信号(U2D)与反向扫描直流控制信号(D2U)的电位相反。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华星光电技术有限公司,未经武汉华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510899904.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top