[发明专利]一种变频组件自动测试系统在审
申请号: | 201510903558.5 | 申请日: | 2015-12-09 |
公开(公告)号: | CN105353259A | 公开(公告)日: | 2016-02-24 |
发明(设计)人: | 王洪林;李希密;韦炜 | 申请(专利权)人: | 扬州海科电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R23/16;G01R13/00 |
代理公司: | 北京文苑专利代理有限公司 11516 | 代理人: | 王炜 |
地址: | 225000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种变频组件自动测试系统,包括上位机、控制模块和测试用仪表,其中:所述测试用仪表与所述上位机相连接;所述控制模块包括MCU、CPLD、数字时钟、RS232通信电路、参考晶振、三功分器、三个本振锁相环电路、脉冲驱动电路和标准TTL驱动电路。本发明采用宽带捷变频锁相环技术产生变频组件需要的本振射频信号,有效替代了现有技术的测试方案中所用的射频信号源,采用CPLD电路产生脉冲信号替代现有技术的测试方案中用到的脉冲发生器,极大的降低了测试成本,省却了射频仪表的控制连线,简化了测试环境。 | ||
搜索关键词: | 一种 变频 组件 自动 测试 系统 | ||
【主权项】:
一种变频组件自动测试系统,其特征在于,包括上位机、控制模块和测试用仪表,其中:所述测试用仪表与所述上位机相连接;所述控制模块包括MCU、CPLD、数字时钟、RS232通信电路、参考晶振、三功分器、三个本振锁相环电路、脉冲驱动电路和标准TTL驱动电路,所述参考晶振与所述三功分器相连接,所述三个本振锁相环电路分别与所述三功分器相连接,所述MCU与所述三个本振锁相环电路相连接,所述RS232通信电路与所述MCU相连接,所述MCU与所述CPLD相连接,所述脉冲驱电路和标准TTL驱动电路分别与所述CPLD相连接。
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