[发明专利]一种系统磁盘分析方法和装置有效

专利信息
申请号: 201510907268.8 申请日: 2015-12-09
公开(公告)号: CN106855831B 公开(公告)日: 2020-04-03
发明(设计)人: 王庆磊 申请(专利权)人: 北京神州泰岳软件股份有限公司
主分类号: G06F11/00 分类号: G06F11/00
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝
地址: 100089 北京市海淀区万*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种系统磁盘分析方法和装置。所述方法包括:确定待测系统需要测试的相关磁盘参数,以及每种磁盘参数的分析规则;建立所述相关磁盘参数的分析顺序;对所述待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据,按照所述相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则进行磁盘分析,并生成磁盘分析报告。本发明的技术方案能够准确分析待测系统磁盘的性能情况,降低性能测试的测试难度,提高性能测试分析的效率和性能测试的质量,有效地指导系统性能的评估、系统缺陷的定位与分析。
搜索关键词: 一种 系统 磁盘 分析 方法 装置
【主权项】:
一种系统磁盘分析方法,其特征在于,所述方法包括:确定待测系统需要测试的相关磁盘参数,以及每种磁盘参数的分析规则;建立所述相关磁盘参数的分析顺序;对所述待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据,按照所述相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则进行磁盘分析,并生成磁盘分析报告。
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