[发明专利]一种超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法在审
| 申请号： | 201510907290.2 | 申请日： | 2015-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN105467011A | 公开（公告）日： | 2016-04-06 |
| 发明（设计）人： | 郑金华;曾兵;盛涛;满明瑞;吴凯;钱云翔 | 申请（专利权）人： | 上海复合材料科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/06 | 分类号： | G01N29/06 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 郭国中;樊昕 |
| 地址： | 201112 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法，包括以下步骤：S1：在已经标定好三维坐标系统的水平工作台上放置长方体形工件，并记录工件的长宽高；S2：在超声C扫描检测系统中输入工件的长宽高参数，并调节好超声参数；S3：用超声探头对工件的水平探测面进行水平扫描，得到一幅包含扫描位置信息与超声检测信号相对应的二维平面超声C扫描图像，确定图像中缺陷信号的平面位置坐标；S4：将十字激光器移动至平面位置坐标处，十字激光器中的十字光斑在工件中的投影即为缺陷的位置，配合十字光斑即将工件中的缺陷平面投影准确的描绘出来。本发明方法可以直接利用C扫描图像对工件中缺陷进行精确定位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超声 扫描 检测 缺陷 位置 精确 定位 方法 | ||
【主权项】：
一种超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：在已经标定好三维坐标系统的水平工作台上放置长方体形工件，并记录工件的长宽高；S2：在超声C扫描检测系统中输入工件的长宽高参数，并调节超声参数；S3：用超声探头对工件的水平探测面进行水平扫描，得到一幅包含扫描位置信息与超声检测信号相对应的二维平面超声C扫描图像，确定图像中缺陷信号的平面位置坐标；S4：将十字激光器移动至平面位置坐标处，十字激光器中的十字光斑在工件中的投影即为缺陷的位置，配合十字光斑即将工件中的缺陷平面投影准确的描绘出来。
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