[发明专利]一种磷化铟基双异质结双极型晶体管外延层结构有效
申请号: | 201510919059.5 | 申请日: | 2015-12-10 |
公开(公告)号: | CN105428403B | 公开(公告)日: | 2018-07-24 |
发明(设计)人: | 张宇;陈宏泰;车相辉;林琳;位永平;王晶;郝文嘉;于浩 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
主分类号: | H01L29/737 | 分类号: | H01L29/737;H01L29/06 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 李荣文 |
地址: | 050051 *** | 国省代码: | 河北;13 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及双异质结双极晶体管(DHBT)技术领域,尤其是涉及npn型InGaAs/InP DHBT技术领域,具体公开了一种磷化铟基双异质结双极型晶体管外延层结构,自磷化铟衬底向上依次包括轻掺杂的N型磷化铟集电区层、能带渐变层、重掺杂的P型铟镓砷基区层和N型磷化铟发射区层,能带渐变层为四层结构,能带渐变层一至三为N型In(1‑x)GaxAsyP(1‑y)材料,从集电区层向基区层,其各层之间的组分渐变,能带渐变层四为非掺的InGaxAs材料。本发明结构基区还具有更高的空穴浓度和更薄的厚度。本发明结构异质结界面处不存在导带尖峰,电子渡越时间更短,该结构制成的晶体管具有更高的频率性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 磷化 铟基双异质结双极型 晶体管 外延 结构 | ||
【主权项】:
1.一种磷化铟基双异质结双极型晶体管外延层结构,自磷化铟衬底向上依次包括非掺杂的N型磷化铟集电区层、能带渐变层、重掺杂的P型铟镓砷基区层和N型磷化铟发射区层,其特征在于,所述能带渐变层为四层,其位于集电区层和基区层之间的结构如下表所示。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十三研究所,未经中国电子科技集团公司第十三研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510919059.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:功率器件及其制造方法
- 下一篇:一种有机发光显示装置及制造方法
- 同类专利
- 专利分类