[发明专利]一种磷化铟基双异质结双极型晶体管外延层结构有效

专利信息
申请号: 201510919059.5 申请日: 2015-12-10
公开(公告)号: CN105428403B 公开(公告)日: 2018-07-24
发明(设计)人: 张宇;陈宏泰;车相辉;林琳;位永平;王晶;郝文嘉;于浩 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: H01L29/737 分类号: H01L29/737;H01L29/06
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 李荣文
地址: 050051 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明涉及双异质结双极晶体管(DHBT)技术领域,尤其是涉及npn型InGaAs/InP DHBT技术领域,具体公开了一种磷化铟基双异质结双极型晶体管外延层结构,自磷化铟衬底向上依次包括轻掺杂的N型磷化铟集电区层、能带渐变层、重掺杂的P型铟镓砷基区层和N型磷化铟发射区层,能带渐变层为四层结构,能带渐变层一至三为N型In(1‑x)GaxAsyP(1‑y)材料,从集电区层向基区层,其各层之间的组分渐变,能带渐变层四为非掺的InGaxAs材料。本发明结构基区还具有更高的空穴浓度和更薄的厚度。本发明结构异质结界面处不存在导带尖峰,电子渡越时间更短,该结构制成的晶体管具有更高的频率性能。
搜索关键词: 一种 磷化 铟基双异质结双极型 晶体管 外延 结构
【主权项】:
1.一种磷化铟基双异质结双极型晶体管外延层结构,自磷化铟衬底向上依次包括非掺杂的N型磷化铟集电区层、能带渐变层、重掺杂的P型铟镓砷基区层和N型磷化铟发射区层,其特征在于,所述能带渐变层为四层,其位于集电区层和基区层之间的结构如下表所示。
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