[发明专利]一种盘式薄壁件的多斜孔位置度检验装置在审
申请号: | 201510928782.X | 申请日: | 2015-12-15 |
公开(公告)号: | CN105547078A | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
发明(设计)人: | 王建;张连飞;杨超;马占宇;龚雅楠;闫磊;王斌 | 申请(专利权)人: | 中核(天津)机械有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 天津市宗欣专利商标代理有限公司 12103 | 代理人: | 胡恩河 |
地址: | 300300 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种盘式薄壁件的多斜孔位置度检验装置,包括定位底座,定位轴安装在定位底座上,垫圈套装于定位轴外,验盘通过螺母与定位轴上端固定;验销分别穿过验盘上的导向孔与待验盘状薄壁工件上的待验斜孔。本发明结构简单、便于携带、操作方便、检验高效,对检验人员的技能要求不高,可在盘式薄壁件的斜孔加工序间实施检验,既避免了成品检验待检工件的搬运过程,又解决了在产品批量加工线上的质量控制问题,节约检测时间,提高检测效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 薄壁 多斜孔 位置 检验 装置 | ||
【主权项】:
一种盘式薄壁件的多斜孔位置度检验装置,其特征在于:包括定位底座(3),定位轴(2)安装在定位底座(3)上,垫圈(5)套装于定位轴(2)外,验盘(1)通过螺母(6)与定位轴(2)上端固定;验销(4)分别穿过验盘(1)上的导向孔(121)与待验盘状薄壁工件(7)上的待验斜孔(71)。
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